Исследовательское оборудование



Реометр Brookfield RST-CC.png
            Реометр Brookfield RST-CC

Выполняет ротационные испытания с предустановленной скоростью (скоростью сдвига) и измеряет крутящий момент, налагаемый на измерительный элемент. Также прибор способен работать в режиме предустановленного (заданного пользователем) напряжения сдвига для измерения деформации сдвига измеряемого вещества по угловому отклонению измерительного элемента. Прибор имеет возможность использования для определения напряжения сдвига, позволяющего измерять предел текучести без сдвига измеряемого вещества, а также определять характеристики ползучести и возврат после сдвига.

         
Вискозиметр EMS 1000S.png       Вискозиметр EMS 1000S

Измеряет динамическую вязкость жидкости путем наблюдения за вращением сферы, которая приводится в движение электромагнитным взаимодействием.

         
Измеритель теплопроводности жидкостей Transient Hot Wire (THW-L1).png       Измеритель теплопроводности жидкостей Transient Hot Wire (THW-L1)

Современная измерительная система для прямого определения теплопроводности и диффузии жидкостей и паст. THW-L1 был разработан с учётом скорости и простоты эксплуатации. За одно измерение продолжительностью менее 2 секунд можно точно измерить теплопроводность небольших объёмов жидкостей и паст. THW-L1 использует нестационарный подход к измерениям и быстрое время испытаний для ограничения конвективных эффектов для образцов с широким диапазоном вязкости.

Кроме того, точный и быстрый контроль температуры THW-L1, а также возможность тестирования под давлением до 35 бар делают его очень универсальным устройством.

         
Система оптического измерения краевого угла смачивания и контурного анализа OCA 25 с наклонной платформой TBU 100.png

      Система оптического измерения краевого угла смачивания и контурного анализа OCA 25 с наклонной платформой TBU 100

Универсальная система для измерения угла контакта и анализа формы капли. Высокопроизводительная камера позволяет измерять контактные углы даже на адсорбирующих поверхностях, таких как ткани или порошки.

Возможные измерения:

  • статический контактный угол
  • динамический контактный угол
  • анализ межфазного и поверхностного натяжения с дисперсными и полярными частицами
  • анализ поверхностной энергии с дисперсными и полярными частями
  • анализ модуля вязкоупругости- анализ работы адгезии

         
Тензиометр DCAT 15.png       Тензиометр DCAT 15

Измерительный прибор для исследования свойств поверхностей и поверхностей раздела на основе веса.

Функции:

  • измерение поверхностного и межфазного натяжения
  • измерение плотности жидкости
  • измерение динамических контактных углов и поверхностная энергия твердых тел
  • определение критической концентрации мицелл (ККМ)
  • встроенная магнитная мешалка
  • цифровой термометр с разъемами для двух температурных датчиков Pt100
  • совместимость с системой дозирования жидкости LDU 25 для автоматизированного производства концентрационных серий, т.е. растворов поверхностно-активных веществ

         
Microtrac NANOTRAC WAVE II.png       Microtrac NANOTRAC WAVE II

Лазерный анализатор размеров частиц применяется для определения размеров, формы частиц в водных и органических средах. Измерение распределения частиц в суспензиях, эмульсиях, порошках по размерам в нанометрах и коллоидных диапазонах, проводится без растворения образцов, необходимого при лазерном анализе другими системами.

Определение размеров дисперсной фазы;

Анализ Z-потенциала;

Определение средневзвешенной молекулярной массы.

         
Система Micro PIV TS Instruments.png       Система Micro PIV TS Instruments

Системы измерения скоростей по изображениям частиц (PIV) измеряют скорости путём определения перемещения частицы за чётко определённый промежуток времени, используя для этого технику двухимпульсного лазера. Лазерный световой нож освещает плоскость в потоке, а положение частиц (естественно присутствующих или добавленных в поток, чтобы получить достаточное количество отражённых сигналов) в этой плоскости записывается с помощью цифровой камеры. Чуть позже (через несколько микро- или миллисекунд) второй импульс освещает ту же самую плоскость, создавая второй набор изображений для измерения скорости частиц. Из этих двух наборов изображений с помощью алгоритмов анализов микро- PIV получают данные о перемещении частиц в пределах отображаемой зоны, чтобы дать информацию о скорости частиц в тысячах мест. Такие свойства потока, как интенсивность завихрённости и скорость деформации, определяют для всего участка. Кроме того, определяют среднюю скорость, интенсивность турбулентности и статистические данные более высокого порядка.

         
Скоростная камера Photron FASTCAM Nova S12.png       Скоростная камера Photron FASTCAM Nova S12

Разрешение: 1024 x 1024 пикселей при 12 800 к/с (Модель S12)

Максимальная скорость съёмки: 1 000 000 к/с (Nova S12 тип 1000K)

Светочувствительность: Стандарт ISO 12232 Ssat (исключая ИК-диапазон): ISO 40 000 (монохромная)

Полнокадровый электронный затвор: Выдержка от 1 мс до менее чем 300 нс, независимо от частоты кадров

         
Промышленный 3D принтер BMF microArch S240.png      

Промышленный 3D принтер BMF microArch S240

Высокоточный 3D-принтер для трехмерной печати на микроуровне, созданный для мелкосерийного производства микродеталей.

Рабочий объём: 100x100x75 мм, оптическое разрешение 10 мкм, толщина слоя от 10 до 40 мкм, допуски +/-25 мкм. Аппарат совместим с промышленными материалами, композитами, керамикой и полимерами вязкостью до 20 000 cP.

Степень шероховатости поверхности: 0,4-0,8 мкм Ra (вверху); 1,5-2,5 мкм Ra (сбоку)

         
Спектральный эллипсометр с матрицей Мюллера ME-L.jpg       Спектральный эллипсометр с матрицей Мюллера ME-L

Позволяет проводить характеристику геометрических параметров и оптических свойств различных оптических пленок и наноструктур, параметров Psi/Delta, NCS, пропускания/отражения и других параметров. Особенно подходит для измерения и характеристики анизотропных тонкопленочных материалов, описания и анализа характеристик материалов.

Основные параметры спектрального эллипсометра ME-L:

Параметр

Характеристика

Измеряемые параметры Матрица Мюллера: 16 элементов матрицы Мюллера могут быть измерены одновременно. Параметры эллипсометрии: Psi/Delta, N/C/S, отражательная способность, пропускание, коэффициент деполяризации и т.д.
Спектральный диапазон 210-1650нм

Размер пятна Обычный: 1-4 мм (короткая ось). Микро-пятно: 200 мкм

Время измерения <15 секунд, измерение в одной точке

Угол падения

45-90°

Размер столика для образцов 200 мм

Ход столика по оси Z 0-20 мм

Ход столика для сканирования (X/Y оси) 100х100 мм
Повторяемость

Лучше чем 0.01 нм (пленка SiO2 толщиной 100 нм на подложке Si, 30 измерений, 1σ)

         
Камера плазменной обработки (CHY-P10L).jpg       Камера плазменной обработки (CHY-P10L)

Прибор предназначен для очистки поверхностей подложек и печатных плат от загрязнений, а также для плазменной активации поверхностей, что позволяет достичь различных модификаций поверхности.

         
3D принтер UpNano NanoOne.jpg       3D принтер UpNano NanoOne

Система лазерной литографии для производства трехмерных (3D) пластиковых компонентов в диапазоне от нано- и микро- до мезо- и макромасштаба. Детали структуры могут находиться в субмикронном диапазоне. Процесс, используемый в NanoOne, основан на принципе двухфотонной полимеризации (2PP).

Область печати до 120x100 мм²; горизонтальное и вертикальное разрешение ≤ 10 нм; максимальное расстояние перемещения по оси Z 49 мм; диапазон горизонтальных размеров элемента от 200 до 730 нм; диапазон вертикальных размеров элемента от 550 до 9200 нм; поле зрения Ø от 0.33 мм до 2 мм


-BIO
Институт экологической
и сельскохозяйственной
биологии
ТюмГУ

625003, Тюменская область,
г. Тюмень, ул. Ленина, 25

Прохошин Алексей Сергеевич
Заместитель директора
(3452) 59-74-00, доб. 17170
+7 (932) 320-02-30
Мухаметова Динара Асхатовна
Руководитель учебного офиса
(3452) 59-74-00, доб. 17178
+7 (982) 971-26-63